ES650自動(dòng)化探針系統(tǒng)是一種2針探測解決方案，適用于封裝級、晶圓級和電路板級器件上的HBM、MM、TLP、HMM、CC-TLP、LI-CCDM、RP-CCDM和CDM（JS-002）測量的自動(dòng)化探針臺。

LVS-500系列低壓浪涌測試儀，輸出波形符合IEC 61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE標(biāo)準(zhǔn)中描述的浪涌波形，旨在測試設(shè)備在晶圓和封裝級別上的浪涌抗擾性。通過脈沖發(fā)生器，可以輕松確定浪涌應(yīng)力下的EOS故障閾值。

EOS-500過電應(yīng)力模擬發(fā)生器是一款50歐姆輸出阻抗脈沖發(fā)生器，用于一般EOS測試，脈沖寬度可在ns至ms范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。

TLP-1000A系列傳輸線脈沖發(fā)生器是獨(dú)立TLP脈沖設(shè)計(jì)，可以產(chǎn)生直接TLP脈沖、E場和H場并將其注入被測器件（DUT）。該發(fā)生器設(shè)計(jì)用于施加高達(dá)5kV（50歐姆負(fù)載）的高質(zhì)量矩形脈沖。5英寸彩色I(xiàn)PS觸摸屏和USB端口可以輕松遠(yuǎn)程控制電壓極性、振幅和脈沖速率。可定制的脈沖寬度和上升時(shí)間以及可變測量附件使發(fā)電機(jī)功能可擴(kuò)展。

ES660 ESD靜電放電和閂鎖測試系統(tǒng)是一款先進(jìn)的多針自動(dòng)測試設(shè)備。針對現(xiàn)代半導(dǎo)體測試的嚴(yán)苛要求而設(shè)計(jì)。產(chǎn)品的測試能力保障大規(guī)模器件的高效評估，顯著縮短測試時(shí)間并提升生產(chǎn)效率。